X射线膜厚测试机开放的校准模式
点击次数：1443 发布时间：2017-12-25
X射线膜厚测试机开放的校准模式
X射线膜厚测试机X射线采用从上至下的照射方式，即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之，如果是从下至上的照射方式，遇到表面凹凸的样品，无法调整Z轴距离，导致测量光程的变化，引起测量的误差。例如（举例不同距离导致的误差数据）。
开放的校准模式，用户可自行建立校准曲线不受仪器厂家限制。
X射线膜厚测试机测量原理：
采用激光测量位移差的方式，测量薄膜在一定张力下的表面平整度，并根据设定规则自动识别坏品。张力测量模块由一个激光位移传感器、驱动机构组成。通过可调张力张紧薄膜被测物后，驱动机构带动位移传感器横向来回扫描，得到膜片横向的高度差，根据转换关系转换成张力均匀性差异。
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日本共立测试包总代理
主营产品介绍：X光镀层测厚仪、韩国XRF2000电镀层测厚仪、PCB孔铜测厚仪,特性阻抗检测仪,
