X射线测厚仪利用激光的反射原理进行测量
点击次数：1136 发布时间：2020-07-15
X射线测厚仪利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
X射线测厚仪适用范围：生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中， x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
X射线测厚仪的性能特点有哪些？
1、采用双功能内置式探头，自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式进行精确测量。
2、符合人体工程学设计的双显示屏结构，可以在任何测量位置读取测量数据。
3、采用手机菜单式功能选择方式，操作十分简便。
4、可设定上下限值，测量结果超出或符合上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。
5、稳定性*，通常不必校正便可长期使用。
X射线测厚仪无法避免的测量误差问题分析如下：
1、对于较薄的覆盖层，由于受仪器本身测量精度和覆盖层表面粗糙度的影响，较难准确测量覆盖层厚度，尤其是当覆盖层厚度小于5μm的情况；对于较厚的覆盖层，其测量结果相对误差近似为一常数，误差随覆盖层厚度增加而增大。
2、不同铁磁性材料或同一铁磁性材料采用不同的热处理方式和冷加工工艺后，其磁特性均有较大差异，而材料的磁特性差异会直接影响对长久磁铁或检测线圈的磁作用，为减小或消除磁特性差异产生的影响，应采用磁特性与试样基体相同或相近的金属材料做为基体对仪器校准。
3、由于磁场在铁磁性基体材料中的分布状态在一定范围内与基体厚度密切相关，当基体厚度达到某临界厚度时，这种影响才能减小或忽略。若试样基体厚度小于临界厚度时，应通过化学方法除去试样的局部覆盖层，利用试样基体对仪器校准。
