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　　X荧光测厚仪方式利用一台激光位移传感器测量被测物的厚度，精度高、稳定性强。测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头， X荧光测厚仪通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

　　X荧光测厚仪在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。

　　X荧光测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

　　X荧光测厚仪是一种在线检测厚度仪器。采用德国传感器，性能稳定、测量准确、经济耐用；在国内镀铝薄膜行业得到广泛应用，得到用户的信任与好评。测厚仪zui关键的部件是传感器，本仪器对传感器做了特殊的耐久性设计，具有防震、防尘、防静电等防护功能。 镀铝薄膜行业是使用环境zui恶劣的，对膜厚检测的要求也高；传感器时常受到铝粉的侵蚀；本产品经历了十几年在恶劣条件下使用的考验，它是一种性能优良、可靠实用的检测仪器。

　　X荧光测厚仪应用范围：

　　用于检测各种非金属基体上导电覆盖层的厚度测量，可测铝、铬、镍、铜、锌、锡、银、金等金属镀层，复合镀层约20几种镀层/基体组合。例如：镀铝薄膜、镀铝纸、铝板、铝箔、铜箔、银箔、铝塑板等其他涂层材料。仪器适于在生产现场或施工现场对产品进行快速无损检查。