产品名称：X-RAY膜厚仪原理方法
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产品特点：X-RAY膜厚仪原理方法韩国MicropioneerXRF-2020/2000通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡测量的镀层范围:0.03微米～35微米。
X-RAY膜厚仪原理方法的详细资料：
X-RAY镀层测厚仪工作方法，通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。
测量镀层等金属薄膜的厚度
因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右
所以不会对样品造成损坏。
同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
检测各种电镀层：
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层：
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
X-RAY膜厚仪规格型号如下图
X-RAY膜厚仪原理方法规格如下图
韩国MicroPioneerXRF-2020镀层测厚仪
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量。
X-RAY膜厚仪原理方法韩国MicropioneerXRF-2020/2000
通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡
测量的镀层范围:0.03微米～35微米
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