产品名称：X射线镀银测厚仪
产品型号：
产品报价：
产品特点：韩国先锋X射线镀层测厚仪:检测电子电镀镀层厚度XRF-2000镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等X射线镀银测厚仪:测试范围0.1-50um
X射线镀银测厚仪的详细资料：
X射线镀银测厚仪:测试范围0.1-50um
韩国XRF-2000镀层测厚仪
检测电子电镀镀层厚度,如铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀镍镀金,
铁上镀锌,铁上镀镍,镀铜,镀锡,镀铬等
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动对焦，操作非常方便简单
应用实例图示
（1）单镀层：Ag/xx |
| （2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
| （3）双镀层：Au/Ni/xx |
Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
底材 |
| 底材 |
| Ni |
|
|
|
| 底材 |
|
|
|
|
|
（4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
| （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化学镀层：Ni-P/xx |
Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
底材 |
| Pd |
| 底材 |
|
| Ni |
|
|
|
| 底材 |
|
（1）单镀层：Ag/xx |
| （2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
| （3）双镀层：Au/Ni/xx |
Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
底材 |
| 底材 |
| Ni |
|
|
|
| 底材 |
|
|
|
|
|
（4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
| （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化学镀层：Ni-P/xx |
Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
底材 |
| Pd |
| 底材 |
|
| Ni |
|
|
|
| 底材 |
|
|
X光镀银测厚仪:测试范围0.1-50um
X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
X射线镀银测厚仪:测试范围0.1-50um
| 如果你对X射线镀银测厚仪感兴趣，想了解更详细的产品信息，填写下表直接与厂家联系： |
