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x荧光镀层测厚仪样品测试的原理你知道吗?
点击次数:313 发布时间:2020-04-23
   x荧光镀层测厚仪又称X射线荧光测厚仪,主要用于精密测量金属电镀层的厚度。
  x荧光镀层测厚仪工作原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
  x荧光镀层测厚仪的优势特点:
  1、超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
  2、易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
  3、有助于识别镀层成分的创新型功能
  4、机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室
  5、按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的结果
  6、使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
  7、用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心
  x荧光镀层测厚仪样品测试:
  1、荧光分析的原理:X-射线后,该物质,将具有特征性的X-射线特征X射线的X-射线荧光光谱仪分析的关键,每个元素都对应于不同的特征X射线。通过测量和分析的特征X射线的能量或波长可以定性和定量的物质。
  2、X-荧光分析原理,我们知道X-射线荧光光谱仪可以做分析的材料元素,符合RoHS,光谱仪只能测试铬元素总总镉元素,溴元素的总金额,总铅元素,对于X-射线荧光光谱仪,但是,如果不超过总测试元件直接,及其化合物不超过。那就是:不超过测试总溴,一个常规的环境,超过总溴过多的时间不一定是PBB,PBDE。测试不超过总铬,定时的环境中,超过总铬六价铬不得超过。
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