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X荧光测厚仪一般的五种测量方法
点击次数:71 发布时间:2020-12-17
  X荧光测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。
  X荧光测厚仪一般的测量方法:
  1、在一点处用探头进行两次测厚,在两次测量中探头的分割面要互为90°,取较小值为被测工件厚度值。
  2、30mm多点测量法:当测量值不稳定时,以一个测定点为中心,在直径约为30mm的圆内进行多次测量,取最小值为被测工件厚度值。
  3、准确测量法:在规定的测量点周围增加测量数目,厚度变化用等厚线表示。
  4、连续测量法:用单点测量法沿指定路线连续测量,间隔不大于5mm。
  5、网格测量法:在指定区域划上网格,按点测厚记录。此方法在高压设备、不锈钢衬里腐蚀监测中广泛使用。
  X荧光测厚仪使用注意事项:
  1)试块厚度的测量。用经过计量校对合格的千分尺,在30×50mm对比赛块的基地部位测量3次,取3次的平均值作为此方位的测量值。以轧制规格为25mm厚的钢板为例,如实习的测量值H别离为24.982mm、24.983mm、24.984mm,则3次平均值24.983mm为钢板的厚度。
  2)探头的选择。根据工件厚度和精度恳求来选择探头,工件较薄时选用频率较高的双晶探头或带推迟块的探头,工件较厚时选用频率较低的单晶探头,尽量选用宽带探头。
  3)探头的表面检查。检查探头表面是不是平稳,如有影响测量精度的磨损,有必要对探头用500#金相砂纸打磨,使其表面滑润并确保平行度,不然更换新的探头。
  4)X荧光测厚仪零点的校准。将声速调整到5900m/s后按ZERO键,进入校准情况,在随机试块上涂耦合剂,将探头和随机试块耦合,直到屏幕闪现试块厚度示值为4mm,即校准结束。
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