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X光无损测厚仪的测量原理和使用注意事项
点击次数:652 发布时间:2021-02-22
  X光无损测厚仪的测量原理和使用注意事项来看看有哪些?
  X光无损测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
  X光无损测厚仪的测量原理:
  物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析
  X光无损测厚仪使用注意事项:
  测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
  1、要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
  2、侧头与试样表面保持垂直。
  3、要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
  4、要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
  5、要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
  6、要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
  7、要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
  8、X光无损测厚仪在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
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