深圳市精诚仪器仪表有限公司

深圳市精诚仪器仪表有限公司
X射线荧光测厚仪综合性能分析测试
点击次数:1348 发布时间:2017-04-21
   X射线荧光测厚仪综合性能分析测试
  
  X射线荧光测厚仪可测元素范围:钛(Ti)–铀(U)原子序22–92
  
  准直器:固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm
  
  自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm
  
  电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
  
  综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能
  
  X射线荧光测厚仪性能特点
  
  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
  
  φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
  
  高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
  
  采用高度定位激光,可自动定位测试高度
  
  定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
  
  鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
  
  高分辨率探头使分析结果更加
  
  良好的射线屏蔽作用
  
  测试口高度敏感性传感器保护
网站首页 - 关于我们 - 产品中心 - 新闻资讯 - 技术文章 - 联系方式 - 管理登陆
Copyright © 2013 深圳市精诚仪器仪表有限公司(www.jc-yq.com) 版权所有  粤ICP备13047480号  技术支持:智能制造网
公司地址:深圳市龙岗区坂田五和大道北元征科技园C218
网站关键词:X光镀层测厚仪,x射线镀层测厚仪,X-RAY电镀膜厚仪,X光无损测厚仪,X射线测厚仪,X光电镀膜厚检测仪,韩国XRF-2000测厚仪
联系人:精诚
手机:
13761400826
  • 点击这里给我发消息

智能制造网

推荐收藏该企业网站