深圳市精诚仪器仪表有限公司

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X光无损测厚仪的结构组成和性能特征
点击次数:178 发布时间:2021-08-11
  X光无损测厚仪由X射光管、检测器、准直器、自动台面控制、雷射对焦系统、软件系统、计算机控制组成。
  X射线由源中高压光管产生X射线(人工源,断电自动停止),X射线管有两个电极:作为阴极的用于发射电子的灯丝(钨丝)和作为阳极的用于接受电子轰击的靶(又称对阴极)。当灯丝通电被加热到高温时,大量的热电子产生,在极间的高压作用下被加速,高速轰击到靶面上,由于运动受阻,动能转化为辐射能,以X射线形式放出。
  X射线可以由高压管中的准直器接受并经过前置放大器将X射线强度送到检测产品中。由于X射线穿透物质后的强度衰减与在物质中经过的距离成正比,所以在物质元素成分一定密度已知的情况下,可以通过接受的X射线强度来测出被测物质的厚度。
  X光无损测厚仪特征:
  1、可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
  2、可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
  3、薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于无铅焊锡的应用。
  4、备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
  X光无损测厚仪作为在线测量厚度的精密仪器,为了保证其测量精度和可靠性,需要定期对其精度进行检验和校准。精度检验分为静态和动态两种。
  静态检验是用已知厚度的试样放在测厚仪下进行测量,根据测量结果确定X射线测厚仪的状态。检验前,要确定试样状态完好,厚度均匀,没有变形和弯曲,测量位置以减少测量误差。测厚仪显示厚度平稳的一段产品,根据要求裁取一定数量规格的试样。
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