深圳市精诚仪器仪表有限公司

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产品名称:X射线镀层测厚仪系统结构

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产品特点:X射线镀层测厚仪系统结构
韩国先锋XRF-2020
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
测量的镀层范围:0.03微米~35微米。
可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料

X射线镀层测厚仪系统结构的详细资料:

 X射线镀层测厚仪系统结构

 

XRF-2020电镀测厚仪

可用于测量工件、PCB及五金、连接器半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, 小测量面积为直径为0.2mm的圆面积; 测量范围:0-35um;
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量

XRF-2020电镀测厚仪

测量原理:物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。


XRF-2020电镀测厚仪

特征:可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于无铅焊锡的应用。
备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

XRF-2020电镀测厚仪

仪器系统结构:
测量部分的结构:用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式,用准直器来确定X射线的光束大小。
样品的观察是利用与照射用的X射线同轴的CCD摄像机所摄制的图像来确定想要测量的样品位置。标准配备了多种尺寸的准直器可根据需要调整照射X射线的光束大小来决定测量面积,zui小可测量面积是40umф。

XRF-2020电镀测厚仪

操作部分:Excel和Word是标准配置,利用这些软件,我们可以简单快速地进行测量数据的统计处理及测量结果报告书的编辑和打印。

 

X射线镀层测厚仪系统结构

MicropioneerXRF-2020韩国先锋测厚仪

 

型号:XRF-2020H,XRF-2020L

仪器功能:

快速准确无损检测电镀层膜厚

 

应用:电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

 

 

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