金属镀层测厚仪的详细资料:
XRF2000厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的
快速、精确的分析:
大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供zui佳灵敏度
简单的元素区分:
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化,可分析的元素范围大:
XRF2000镀层测厚仪的长期稳定性:
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
例行进行简单快 速的波谱校 准,可自 动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
金属镀层测厚仪
产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区 自定义
金属镀层测厚仪
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