产品名称：镀金X光测厚仪
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产品特点：韩国先锋X射线镀层测厚仪:检测电子电镀镀层厚度XRF-2000镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等镀金X光测厚仪
镀金X光测厚仪的详细资料：
韩国先锋 XRF-2000 X射线镀层测厚仪
电镀膜厚仪
产品介绍
X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
XRF-2000 系列分为以下三种：
1. H型: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2. L型: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。
3. PCB型: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下
应用 :
检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度
测量范围根据不同镀层0.04-35um
测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等,其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。
特色 :
非破坏，非接触式检测分析，快速精确。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。 
镀金X光测厚仪
韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号
不同型号各种功能一样
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
镀金X光测厚仪
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