产品名称：X-RAY膜厚仪
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产品特点：韩国先锋X-RAY膜厚仪XRF-2000镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
X-RAY膜厚仪的详细资料：
韩国先锋Micro Pioneer X-RAY膜厚仪
XRF-2000电镀膜厚测量仪
产品介绍
X射线电镀测厚仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
XRF-2000镀层测厚仪系列三款型号：
分别XRF-2000H镀层测厚仪,XRF-2000L测厚仪,XRF-2000PCB
三款型号镀层测厚仪功能相同,所体现区别是对检测样品高度有以下要求
1. H型: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度100mm以下。
2. L型: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度30mm以下。
3. PCB型: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度30mm以下
应用 :
检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度
测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。
特色 :
非破坏，非接触式检测分析，快速精确。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。
韩国XRF2000镀层测厚仪
检测电子电镀,五金镀,LED支架电镀.PCB板电镀,化学镀,,如镀金,镀镍,镀锌,镀锡,镀钯,镀铜,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
韩国先锋Micro Pioneer X-RAY膜厚仪
测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯,镀锌镍等
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