深圳市精诚仪器仪表有限公司

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产品名称:韩国XRF-2000镀层测厚仪型号选择

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产品报价:

产品特点:韩国先锋X射线镀层测厚仪:检测电子电镀镀层厚度
XRF-2000镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

韩国XRF-2000镀层测厚仪型号选择的详细资料:

X射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。 

韩国Micropioneer XRF-2000系列X射线金属镀层测厚仪分为以下三种型号: 

1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。 

2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。 

3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测  


应用 :

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )。  


行业 : 

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。  


特点 :

     非破坏,非接触式检测分析,快速精准。

     可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。

     兼容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。

     全系列独特设计样品与光径自动对准系统。

     标准配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。

准直器口径多种选择,可根据样品大小来选择准值器的口径。 

     移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。 

     独特2D与3D或任意位置表面量测分析。

     雷射对焦,配合彩色CCD撷取影像使用point and shot功能。

标准ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。

光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。 

单位选择: mils 、 uin 、 mm 、 um 。

     优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的zui佳优势。 

     仪器正常使用保固期一年,强大的专业及良好的售后服务。

     测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。


标准参数:

主机箱

输入电压:AC220V±10%,50/60HZ

通讯方式:USB

温度控制:前置放大及机箱温度控制

对焦:镭射自动对焦

样品对位:镭射对位

安全装置:若测量中箱门打开,X射线会在0.5秒内关闭

表面泄漏:少于1uSv


多通道分析

通道数量:8K(8192)

温度控制:自动前置放大温度控制

脉冲处理:微电脑高速处理器


X射线源

X射线管:油冷,超威细对焦(选项)

高压:0-50kV(程控)

管电流:0 -1mA(程控)

目标靶:W靶(可选Mo或Be)


准直器

种类:固定型或自动型(选项)

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1*0.4mm;其它大小(选项)

自动种类大小:0.1,0.2,0.3,0.4,0.05*0.4mm


电脑系统

电脑:联想或IBM相容

显示器:21寸彩色显示器

印表机:喷墨彩色打印机


校正

应用:单镀层,双镀层,合金镀层,电镀液

修正功能:密度修正,标准样品再校正


2D、3D、随机位置测量

2D:均距表面测量

3D:表面排列处理测量

随机位置:任意设定测量点


检测系统

检测器:正比计数器

检测滤片:Co或Ni(选项)

初级滤片: Al(选项)


X-Y-Z 三轴样片台

操作模式:高速精密马达,可控制加减速

位置控制:鼠标定位;样品台视窗控制;防呆摄像机监控;2D、3D、随机定位;程控定位;箱门开关Y轴传输


摄像系统

摄像器:彩色数字CCD摄像头

显示模式:显示器覆盖模式

刻度线:软件产生

光束显示:软件显示真实大小

照明灯:光暗控制

自动修正功能:光束及十字线自动修正


统计功能

处理项目:zui大/ zui小值,位移,平均值,标准差,Bar图表R图表及方型图等等

报表:五种模式可选

处理能力:zui多90项

标志功能:可插入公司标志

预览:打印前预览,可节省纸张


定性分析

显示模式:元素频谱显示

方法:ROI距离定性分析

元素显示:标线图案显示

指标显示:显示元素及测量数值

ROI显示:显示ROI彩色图

放大功能:局部倍大

平均功能:柔和显示频谱

视窗大小:无级别式视窗大小

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