产品名称：X射线镀层测厚仪
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产品特点：韩国先锋X射线镀层测厚仪:检测电子电镀镀层厚度韩国先锋X-RAY膜厚仪,检测镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等,X射线测厚仪,X射线膜厚仪
X射线镀层测厚仪的详细资料：
X射线镀层测厚仪工作原理
对于X射线，在其穿透被测材料后，射线强度I的衰减规律为
式中 I0———入射射线强度；
μ———吸收系数；
h———被测材料的厚度。
当μ和I0一定时，I仅仅是板厚h的函数，所以测出I就可以知道厚度h。
X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测工件所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度值。
X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测工件所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用标准片X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。
在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测工件中通过，被测工件将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测工伯的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。
韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒
精度控制：
*层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内
韩国XRF2000镀层测厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等
测量时间：10－30秒
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