深圳市精诚仪器仪表有限公司

X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。测试镀层厚度要考虑镀层材质和镀层密度等因素，如果各因素都不确定是无法分析的！

X-射线仪器的测量原理

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

韩国先锋X射线金属镀层测厚仪(X-RAY镀层测厚仪,X-RAY膜厚仪,韩国XRF-2000测厚仪)

产品简介

韩国Micro Pioneer XRF-2000测厚仪是一款快速、无损、准确检测镀层厚度仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的镀层厚度检测，可以检测如镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等，zui多一次可测五层。

应用领域

X光电镀层测厚仪主要是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的应用，广泛应用于电子电器厂、精密五金公司、电镀加工企业、以及电镀产品来料检测等。

韩国先锋X-RAY膜厚仪器功能

全自动台面
自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒
 

精度控制：
     

*层：±5%以内
     

第二层：±8%以内
     

第三层：±12%以内

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
综合性能:镀层测厚  定性分析   镀液分析 统计功能

韩国XRF-2000H型镀层测厚仪，测量样品高度10cm内

韩国XRF-2000L型镀层测厚仪，测量样品高度3cm内

长宽均为55cm内