深圳市精诚仪器仪表有限公司

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产品名称:铜上镀银X射线电镀测厚仪

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产品特点:铜上镀银X射线电镀测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层

铜上镀银X射线电镀测厚仪的详细资料:

 

 

铜上镀银X射线电镀测厚仪

 

韩国Micro Pioneer XRF-2000测厚仪

 

产品介绍

 

X射线电镀测厚仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

 

韩国XRF-2000 系列分为以下三种:  
 

1. H型: 密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。  
2. L型:  密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。  
3. PCB型:  开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下

 

应用 : 

检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度


测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )   
 

韩国XRF-2000镀层测厚仪


检测电子电镀,五金镀,LED支架电镀.PCB板电镀,化学镀,

如镀金,镀镍,镀锌,镀锡,镀钯,镀铜,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单

 

仪器功能

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.04-35um

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间:10-30秒

精度控制

      *层:±5%以内
      第二层:±8%以内
      第三层:±12%以内

 

XRF2000电镀测厚仪/电镀膜厚测试仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单


 

XRF2000镀层测厚仪

提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。


 

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92

准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:液晶显示器,彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

铜上镀银X射线电镀测厚仪

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